Scienza del vetro e dei substrati

Substrati float, overflow downdraw e molati-lucidati: rugosità, planarità e scostamento di spessore

Substrati float, overflow downdraw e molati-lucidati: rugosità, planarità e scostamento di spessore

Il vetro float è lucidato a fuoco ma ondulato; l’overflow downdraw forma senza contatto su entrambe le facce; molatura e lucidatura danno planarità controllabile. L’articolo confronta le tre vie di substrato su planarità, ondulazione e rugosità, stima l’angolo di cuneo dallo scostamento di spessore e il gap richiesto per l’esposizione di prossimità, e delinea la scelta del substrato per dischi encoder.

Una lastra di vetro trasparente spessa nominalmente 1 mm può provenire da float, overflow downdraw o molatura-e-lucidatura. Gli stati superficiali differiscono: alcuni sono lisci al nanometro ma leggermente incurvati sulla lastra, altri sono piani ma richiedono un passo in più, e i prezzi differiscono. La chiave della scelta è la scala dell’ondulazione: dire «quanto è piana la superficie» significa sempre «su quale finestra laterale». L’articolo colloca i tre tipi di substrato su un comune modello di spettro superficiale assunto e li confronta con i requisiti di disco encoder ed esposizione di prossimità.

Profili superficiali simulati dei tre processi: la finestra di osservazione si riduce da 100 mm a 50 μm; a sinistra profilo e P–V nella finestra, a destra P–V in funzione della larghezza della finestra (spettro assunto, esempio)
Figura 1 – Profili superficiali simulati dei tre processi: la finestra di osservazione si riduce da 100 mm a 50 μm; a sinistra profilo e P–V nella finestra, a destra P–V in funzione della larghezza della finestra (spettro assunto, esempio)

Da dove vengono le tre superfici

Il vetro float si stende in nastro su un bagno di stagno fuso; la faccia superiore si forma per tensione superficiale e lucidatura a fuoco ed è liscia al nanometro, ma lungo la direzione di traino restano ondulazioni a lunga onda; la faccia a contatto con lo stagno è trattata nell’articolo sulla faccia stagno di questa libreria. Nell’overflow downdraw due flussi di vetro scendono dai lati di una vasca di sfioro e si fondono alla radice in una lastra le cui facce esterne non toccano alcun organo di formatura; lastre più sottili usano spesso questa via. Molatura e lucidatura spianano entrambe le facce di una lastra esistente e poi le lucidano, rimuovendo il danno sottosuperficiale vicino alla superficie (vedi l’articolo sulla molatura in questa libreria); la forma è fissata dalla faccia del piatto di molatura e dal processo di lucidatura.

Per scala: planarità, ondulazione, rugosità

Per lunghezza d’onda spaziale le ondulazioni si dividono spesso in tre bande: oltre circa 10 mm planarità (forma), 0,1–10 mm ondulazione, più corte rugosità. Esempio (assunto): float forma rms 10 μm, ondulazione 40 nm, rugosità 0,7 nm; overflow downdraw 8, 15 nm, 0,3 nm (lastra sottile libera); molato-lucidato 0,8 μm, 5 nm, 0,4 nm. Da questo spettro segue il P–V per ciascuna finestra (Figura 1, destra):

Finestra di osservazioneFloatOverflow downdrawMolato-lucidato
100 mmcirca 19 μmcirca 18 μmcirca 1,5 μm
2 mmcirca 0,15 μmcirca 0,055 μmcirca 0,019 μm
50 μmcirca 2,9 nmcirca 1,0 nmcirca 1,4 nm

Tre letture. Primo, il P–V della stessa lastra scende di diversi ordini di grandezza restringendo la finestra, quindi «P–V = …» deve sempre indicare finestra e filtraggio. Secondo, su grandi scale il molato-lucidato è il più piano; sulla rugosità a piccola scala l’overflow downdraw è il più basso perché non c’è lavorazione meccanica; tutte e tre le rugosità di classe nm danno perdite di scattering trascurabili a 850 nm nell’infrarosso (vedi l’articolo rugosità e scattering in questa libreria). Terzo, nell’esempio l’ondulazione float è più alta dell’overflow downdraw, ma la differenza varia con il lotto; gli intervalli in Figura 2 sono solo di ordine di grandezza.

Intervalli di esempio di quattro metriche superficiali (asse log): la rugosità dei tre è vicina; planarità e scostamento di spessore differiscono di uno o due ordini di grandezza
Figura 2 – Intervalli di esempio di quattro metriche superficiali (asse log): la rugosità dei tre è vicina; planarità e scostamento di spessore differiscono di uno o due ordini di grandezza

L’effetto dell’ondulazione sulla trasmissione si può stimare: ampiezza 0,05 μm, lunghezza d’onda 5 mm, pendenza massima 2π·a/λ ≈ 63 μrad ≈ 13″; la rifrazione su una faccia deflette di circa (n−1) volte, cioè ordine 30 μrad, con solo 0,03 μm di spostamento su un gap di lettura di 1 mm – trascurabile.

Scostamento di spessore e angolo di cuneo

Lo scostamento di spessore rende la lastra a cuneo: 20 μm di differenza su 100 mm danno un angolo di cuneo di 0,2 mrad (41″); il raggio trasmesso deflette di circa (n−1) volte, cioè 0,1 mrad, solo circa 0,1 μm su un gap di lettura di 1 mm. Per dischi encoder incrementali l’effetto è piccolo, ma per una lastra intera usata come reticolo di diffrazione, percorsi ottici lunghi o lastre impilate va verificato a parte; le lastre molate-lucidate hanno di solito scostamenti solo dell’ordine 1–3 μm.

Requisiti per dischi encoder ed esposizione di prossimità

Nell’esposizione di prossimità tra maschera e substrato resta un gap g; la diffrazione allarga la larghezza di linea risolvibile al crescere del gap. Una forma empirica comune (fattore 1–1,5 a seconda del processo) è:

b_min ≈ 1,5·√(λ·(g + z/2))

dove b è la larghezza di linea di pattern a linee uguali e spazi uguali (mezzo passo) e z lo spessore del resist, preso 1 μm. A 365 nm, g = 10, 20, 30, 50 μm danno b_min circa 2,9, 4,1, 5,0, 6,4 μm. Per passo obiettivo 8 μm (mezzo passo 4 μm) il gap non deve superare circa 19 μm e deve valere su tutta la lastra.

Con gap impostato 12 μm e P–V di forma 20 μm (esempio float), il gap locale va da 12 a 32 μm e b_min sale da circa 3,2 μm a 5,2 μm, oltre il target di 4 μm; una lastra molata-lucidata con P–V 1,5 μm resta a 3,2–3,4 μm (Figura 3, ignorando l’appiattimento a vuoto). Una lastra sottile aspirata su un chuck a vuoto migliora, ma servono flessibilità sufficiente e un chuck piano.

Sinistra: b_min di esposizione di prossimità versus gap; destra: intervallo di b_min nella lastra per i tre substrati a gap impostato 12 μm
Figura 3 – Sinistra: b_min di esposizione di prossimità versus gap; destra: intervallo di b_min nella lastra per i tre substrati a gap impostato 12 μm

Logica di selezione

Tipo di disco encoder (soglie di esempio)Scelta preferita
Passo non sotto alcune decine di μm; esposizione a contatto o proiezione; gap di lettura sopra 0,3 mmFloat basta; attenzione a faccia stagno e ricottura
Passo 10–20 μm; esposizione di prossimità; gap 10–30 μmOverflow downdraw o molato-lucidato, a seconda di P–V e chuck
Passo sotto circa 8 μm; lettura diffrattiva o riflessivaMolato-lucidato, con specifiche di planarità e scostamento di spessore in classe μm

Note di ingegneria

  • Planarità, ondulazione e rugosità in specifica devono portare larghezza di finestra e metodo di filtraggio, altrimenti non sono confrontabili.
  • La rugosità (classe nm) raramente è il problema dei substrati di vetro; lo sono planarità e scostamento di spessore.
  • Per l’esposizione di prossimità prima ricavare il gap ammesso dalla larghezza di linea obiettivo, poi richiedere che il P–V di forma nella lastra sia solo una frazione di quel gap.
  • La forma libera delle lastre sottili dipende da tensioni residue e peso proprio; in accettazione misurare con un supporto fisso.
  • Per lastre molate-lucidate verificare che il danno sottosuperficiale sia stato rimosso; smusso del bordo e pulizia vanno nella specifica.
  • Prima della scelta confrontare gli intervalli di questo articolo con rapporti di misura; differenze tra lotti e fornitori possono arrivare a diverse volte.

Sintesi

I substrati float, overflow downdraw e molati-lucidati hanno tutti rugosità di classe nm; ciò che li separa davvero è planarità e scostamento di spessore sulla scala di 100 mm: nell’esempio il P–V molato-lucidato è circa 1,5 μm, mentre float e overflow liberi sono circa 20 μm. Il requisito di gap dell’esposizione di prossimità trasforma quella differenza in differenza di larghezza di linea: scegliere il substrato in base al passo obiettivo, non dire in astratto «deve essere piano».


Traduzione dell’articolo originale cinese (0568). ENC7 – produttore di dischi encoder (richiesta) · Articoli tecnici · https://enc7.com

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