信号问题图鉴

症状:换同型号读数头后零位偏几个计数——零位窗位置公差

症状:换同型号读数头后零位偏几个计数——零位窗位置公差

换同型号读数头后零位偏几个计数,来自安装定位、绕销转角和检测场内部公差,以及零位窗越过门控余量的跳周期。本文把各项换算为读数半径处的位移与计数(r = 15 mm、2500 线时 1 计数约 9.4 μm),给出互换性预算和交叉互换试验。

售后更换读数头,或者产线上换一个同型号读数头复测,回零位置变了:有时偏一两个计数,有时偏三四个,个别情况正好偏 4 个,或者 Z 变窄、一转出两个。码盘和轴都没动,变的只是读数头。要回答“偏多少算正常”,得先把零位位置拆成几段,分别换算成读数半径处的位移和计数,再判断哪段该收紧、哪段该靠装调或电子置零解决。电气零位与机械零位的整条误差链见本文库术语篇,这里只看读数头互换这一环。

读数头 2 相对读数头 1 切向偏 28 μm(安装 +15 μm、内部检测场 +13 μm),零位窗另偏 3 μm 但仍在门控余量内:两者的门控 Z 在同一码盘上相差约 3 个计数(示例参数)
图1 读数头 2 相对读数头 1 切向偏 28 μm(安装 +15 μm、内部检测场 +13 μm),零位窗另偏 3 μm 但仍在门控余量内:两者的门控 Z 在同一码盘上相差约 3 个计数(示例参数)

零位位置由哪几段决定

门控 Z 是原始零位信号与 A = B = 1 象限相与的结果,它的边沿就是 A、B 的边沿。所以零位相对码盘的位置分两部分:

Z 位置 = s_m + s_i + k·p

  • s_m:读数头基准相对回转轴的切向安装位置,由定位面、定位销与孔的配合、螺钉孔间隙决定;
  • s_i:增量检测场相对读数头基准的切向位置,是读数头内部公差;
  • k·p:原始 Z 落在第几个信号周期,由零位窗相对增量检测场的位置 z 决定,p 为节距。

前两项连续变化,直接换算成计数;第三项是整周期跳变,只要 z 不超过门控余量,k 就不变。

换算基准:r = 15 mm、2500 线时 p = 2πr/N ≈ 37.7 μm,四倍频一个计数为 p/4 ≈ 9.42 μm,合 129.6″。两次装配的零位差为

ΔC = (Δs_m + Δs_i)/(p/4) + 4·Δk

互换性预算

项目公差(示例)换算
读数头定位(切向)±15 μm±1.6 计数
绕定位销转角:销到检测窗 10 mm,转角 1 mrad±10 μm±1.1 计数
增量检测场相对读数头基准±10 μm±1.1 计数
零位窗相对增量检测场±10 μm(约 ±95° 电角度)0 或 ±4 计数

连续部分极值 ±35 μm,约 ±3.7 计数;方和根约 ±2.2 计数(见图2左)。所以“换头后偏两三个计数”在这种定位方式下属于正常离散。要让互换后零位保持在 ±1 个计数以内,三项之和要压到 ±9.4 μm,单靠螺钉和普通定位销很难做到。

角向公差常被低估:读数头靠一个销定位、另一个螺钉孔限转时,转角 Δβ 在检测窗处造成 L·Δβ 的切向位移,L 是销到检测窗的距离。L = 10 mm、Δβ = 1 mrad 就是 10 μm,约一个计数。

阈值离散的影响较小:门控 Z 的边沿由 A、B 决定,原始 Z 阈值变化只改变原始 Z 的宽度和中心,占用门控余量;非门控输出时它才直接移动边沿,原始 Z 边沿横跨 90° 电角度、阈值变 10% 时约移 9°,只有 0.1 个计数。

跳周期:零位窗超出门控余量

原始 Z 宽 W_r 时,门控余量为 ±(W_r − 90°)/2:

  • W_r = 180°:±45°,即 ±4.7 μm。读数头内部 ±10 μm 的零位窗公差已经超出,一部分读数头会出现 Z 变窄,偏移在 135°~225° 之间时 Z 丢失,再大则跳到相邻周期,零位整整偏 4 个计数。
  • W_r = 360°:±135°,即 ±14.1 μm,可以覆盖 ±10 μm 的公差;超出后原始 Z 两端各切到一个象限,一转出现两个窄 Z,再大同样跳 4 个计数(见图2右)。

所以零位差正好是 4 的整数倍,或伴随 Z 变窄、丢失、一转两个,应查零位窗与增量检测场的相对位置,而不是安装定位。码盘上零位道与增量道的半径差越大,偏心和方位角造成的相对相移也越大,同样会占用这份余量(见本文库零位对准设计一篇)。

左:读数头互换的连续偏移预算(示例公差);右:门控 Z 中心随零位窗偏移的变化,原始 Z 宽 180° 时余量 ±4.7 μm,360° 时 ±14.1 μm,越过后变窄、丢失或一转两个,最终跳 4 个计数
图2 左:读数头互换的连续偏移预算(示例公差);右:门控 Z 中心随零位窗偏移的变化,原始 Z 宽 180° 时余量 ±4.7 μm,360° 时 ±14.1 μm,越过后变窄、丢失或一转两个,最终跳 4 个计数

交叉互换试验

  1. 建立参照:同一码盘上保留一个不拆的参照读数头,或在轴上接参考编码器;被测读数头的 Z 位置用参照的计数表示。
  2. 交叉组合:取 2~3 个读数头、2 个安装位(或 2 台机体),每种组合装拆 3 次,记录 Z 位置。
  3. 分离来源:同一读数头在不同机体上偏移一致,是读数头内部(s_i 或 z);跟着机体走,是安装面和定位孔;同一组合装拆之间离散大,是定位重复性。
  4. 看数值特征:偏移连续分布,按 9.42 μm/计数反算位移,对照安装与内部公差;偏移集中在 0 和 ±4,查零位窗与门控余量,必要时在原始 Z 测试点看其相对 A = B = 1 象限的位置。
  5. 定对策:连续偏移靠定位销加严或装调时以信号找正;跳周期靠加宽原始 Z、收紧零位窗公差;系统允许时,更换读数头后在控制器中重新标定零位偏置。

工程要点

  • 先换算:读数半径 15 mm、2500 线时 1 计数约 9.4 μm,切向 28 μm 就是 3 个计数。
  • 读数头的切向定位和绕销转角往往比读数头内部公差大,要求互换零位时优先加严定位。
  • 互换后零位要在 ±1 计数以内,三项连续公差之和须小于 p/4,细节距码盘基本只能靠找正或电子置零。
  • 零位差为 4 的整数倍,或伴随 Z 变窄、丢失、一转两个,查零位窗相对增量检测场的位置和原始 Z 宽度。
  • 原始 Z 宽约一个周期时门控余量 ±135°,比 180° 宽时的 ±45° 宽得多,利于互换。
  • 交叉互换试验用参照读数头计数,能把读数头内部、安装面和装拆重复性三类来源分开。

小结

换同型号读数头后零位偏几个计数,连续部分来自安装定位、绕销转角和检测场内部公差,按 p/4 换算成计数;整 4 个计数的跳变来自零位窗越过门控余量。按读数半径把各项换成微米和计数做互换性预算,用交叉互换试验分清来源,就能决定是加严定位、加宽原始 Z,还是在换头后重新标定零位。

延伸阅读:ENC7 编码器码盘生产厂家(中文主页) · 码盘技术文库


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