玻璃与基材科学
玻璃表面粗糙度与散射:几纳米 Ra 对透射信号的影响

透射面的总积分散射 TIS ≈ (2π(n−1)σ/λ)²:850 nm 下 σ = 0.5、2、10 nm 时单面仅 0.00036%、0.0057%、0.14%。本文给出角分布模型,比较相位光栅、镀膜与反射界面的敏感度,并按散射预算反推抛光等级。
玻璃基片的抛光要求常写成“Ra ≤ 几纳米”,价格随等级陡升。可是码盘读数光的波长是 850 nm,一个几纳米的表面起伏,究竟让透射信号少了多少光?这些光又散到哪里去了?本文用相位屏模型算出散射损失和角分布,再看哪些工艺环节才真正需要超光滑表面,最后给出一个按散射预算反推粗糙度的做法。

模型:表面起伏变成相位起伏
光从玻璃(折射率 n)射向空气,表面高度每相差 h,透射光的光程就差 (n−1)·h。相位起伏的方差为
g = [2π(n − 1)σ / λ]²
其中 σ 为表面均方根粗糙度,λ 为波长。镜面方向的透射光按相干叠加衰减为 exp(−g),其余部分被散射,总积分散射为
TIS = 1 − exp(−g) ≈ g(g ≪ 1)
对反射界面,例如从玻璃内侧照到金属膜上,光程差是 2nh,对应 TIS ≈ (4πnσ/λ)²。相位系数是透射面的 2n/(n−1) ≈ 6 倍,TIS 约为 35 倍,所以反射型表面对粗糙度敏感得多。
散射光的角分布由相关长度 ℓ 决定。高斯相关时,g ≪ 1 的漫散射近似为 exp[−(πℓ·sinθ/λ)²]:ℓ = 1.5 μm、λ = 0.85 μm 时 1/e 半宽约 10°,形状与 σ 无关,σ 只改变整体高低。要到 g 接近 1(σ 约 100–300 nm 的研磨面)才会明显变宽,同时镜面部分迅速消失(图1右半段)。这里的 σ 是空间波长大于 λ 的频带内的粗糙度,AFM 小视场扫描与光学轮廓仪测的 σ 不能直接互换。
数值算例:0.5、2、10 nm
λ = 850 nm、n = 1.51,σ 与散射的对应如下(Ra 按高斯表面取 0.8σ):
| σ(nm) | Ra(nm) | 单面 TIS | 两面 TIS | 玻璃/金属界面 TIS |
|---|---|---|---|---|
| 0.5 | 0.4 | 0.00036% | 0.00071% | 0.012% |
| 2 | 1.6 | 0.0057% | 0.011% | 0.20% |
| 10 | 8 | 0.14% | 0.28% | 4.9% |
| 20 | 16 | 0.57% | 1.1% | 18% |
| 50 | 40 | 3.5% | 6.9% | 71% |
| 100 | 80 | 13% | 25% | 99% |
| 300 | 240 | 72% | 92% | 接近全部 |
TIS 与 σ² 成正比,σ 每增大 3 倍,散射增大近 10 倍;与 λ² 成反比,用 633 nm 光看雾度比 850 nm 下实际的散射强约 1.8 倍(图3右)。10 nm 以内对透射信号的影响远小于玻璃的菲涅耳反射(两个表面约 8%);散射光又集中在约 ±10° 以内(本例相关长度),读数头接收角若更大,实际损失还会更小。

哪些环节对粗糙度敏感
振幅型透射读数。 刻线/空白的遮光靠铬膜,粗糙度只造成百分之一以下的整体衰减,亮暗两态按同一比例变化,调制度不变。几纳米与零点几纳米在信号上没有区别。
相位光栅。 π 相位深度 d = λ/(2(n−1)) ≈ 833 nm,σ = 10 nm 时由粗糙度引起的相位误差 2π(n−1)σ/λ ≈ 0.038 rad,零级增加量约 g/4 ≈ 3.6×10⁻⁴,可以忽略;但 0.14% 的散射背景直接叠加在零级和杂散光里。如果把零级和杂散光合计预算定为 1%(示例),它就占掉了一成多。
镀膜面与反射界面。 铬膜厚约 100 nm,σ = 10 nm 的起伏已达膜厚的十分之一,局部膜厚与 OD 会随之涨落。从玻璃内侧照金属膜的结构,10 nm 就有约 5% 的光被散射;按 1% 预算只允许 σ 约 4.5 nm,按 0.1% 预算约 1.4 nm。
接触曝光。 σ = 10 nm 对应的峰谷约 50 nm,接触间隙引起的衍射模糊约 √(λ_曝光·g) ≈ 0.14 μm(λ_曝光取 365 nm,g = 50 nm),远小于码盘的线宽。限制曝光质量的是平面度和颗粒,不是 nm 级的粗糙度。
不能用 rms 描述的缺陷。 划痕、麻点和亚表面裂纹是局部缺陷,σ 小也可能很多。它们才是针孔、断线和镀膜脱落的来源,抛光等级还要同时写表面疵病等级。
按散射预算反推 σ
给定允许的散射预算 B,两个表面相同时
σ_max = λ / [2π(n − 1)] · √[−ln(1 − B) / 2]
B = 0.1% 时 σ_max ≈ 5.9 nm(Ra 约 4.7 nm),B = 1% 时约 18.8 nm(Ra 约 15 nm);只有一个表面粗糙时分别为 8.4 nm 和 26.6 nm(图3左)。

工程要点
- 振幅型透射码盘的光路面,σ ≤ 20 nm(Ra 约 15 nm,两面 TIS 约 1%)已够用,追求 Ra < 1 nm 对信号没有收益。
- 做相位光栅、干涉式读数或高精度镀膜的面,取 σ ≤ 2–5 nm,并同步限定划痕与麻点等级。
- 反射结构(玻璃内侧照金属膜)允许的 σ 只有透射面的约六分之一,要单独核算。
- 外圆、内孔、非光路面可以研磨,没必要抛光;浮法玻璃的原始表面一般已是亚纳米至 1 nm 量级。
- 粗糙度验收注明测量方法、视场和滤波带宽;用 633 nm 可见光目视雾度会高估 850 nm 下的散射。
- 研磨面(Ra 0.1 μm 以上)用在光路上单面就要散掉一成以上的光,必须抛光后再用。
小结
透射面的散射损失与 σ² 成正比、与 λ² 成反比:850 nm 下 10 nm 以内的粗糙度只让单面损失 0.14% 以内,对振幅型码盘信号可以忽略。真正需要超光滑表面的是相位光栅、反射界面和高精度镀膜,同时要控制划痕麻点这类局部缺陷。抛光等级应按散射预算和工艺环节分别提出,而不是一律追求最高等级。
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