玻璃與基材科學
玻璃表面粗糙度與散射:幾奈米 Ra 對透射訊號的影響

透射面的總積分散射 TIS ≈ (2π(n−1)σ/λ)²:850 nm 下 σ = 0.5、2、10 nm 時單面僅 0.00036%、0.0057%、0.14%。本文給出角分佈模型,比較相位光柵、鍍膜與反射介面的敏感度,並按散射預算反推拋光等級。
玻璃基片的拋光要求常寫成“Ra ≤ 幾奈米”,價格隨等級陡升。可是碼盤讀數光的波長是 850 nm,一個幾奈米的表面起伏,究竟讓透射訊號少了多少光?這些光又散到哪裡去了?本文用相位屏模型算出散射損失和角分佈,再看哪些製程環節才真正需要超光滑表面,最後給出一個按散射預算反推粗糙度的做法。

模型:表面起伏變成相位起伏
光從玻璃(折射率 n)射向空氣,表面高度每相差 h,透射光的光程就差 (n−1)·h。相位起伏的方差為
g = [2π(n − 1)σ / λ]²
其中 σ 為表面均方根粗糙度,λ 為波長。鏡面方向的透射光按相干疊加衰減為 exp(−g),其餘部分被散射,總積分散射為
TIS = 1 − exp(−g) ≈ g(g ≪ 1)
對反射介面,例如從玻璃內側照到金屬膜上,光程差是 2nh,對應 TIS ≈ (4πnσ/λ)²。相位係數是透射面的 2n/(n−1) ≈ 6 倍,TIS 約為 35 倍,所以反射型表面對粗糙度敏感得多。
散射光的角分佈由相關長度 ℓ 決定。高斯相關時,g ≪ 1 的漫散射近似為 exp[−(πℓ·sinθ/λ)²]:ℓ = 1.5 μm、λ = 0.85 μm 時 1/e 半寬約 10°,形狀與 σ 無關,σ 只改變整體高低。要到 g 接近 1(σ 約 100–300 nm 的研磨面)才會明顯變寬,同時鏡面部分迅速消失(圖1右半段)。這裡的 σ 是空間波長大於 λ 的頻帶內的粗糙度,AFM 小視場掃描與光學輪廓儀測的 σ 不能直接互換。
數值算例:0.5、2、10 nm
λ = 850 nm、n = 1.51,σ 與散射的對應如下(Ra 按高斯表面取 0.8σ):
| σ(nm) | Ra(nm) | 單面 TIS | 兩面 TIS | 玻璃/金屬介面 TIS |
|---|---|---|---|---|
| 0.5 | 0.4 | 0.00036% | 0.00071% | 0.012% |
| 2 | 1.6 | 0.0057% | 0.011% | 0.20% |
| 10 | 8 | 0.14% | 0.28% | 4.9% |
| 20 | 16 | 0.57% | 1.1% | 18% |
| 50 | 40 | 3.5% | 6.9% | 71% |
| 100 | 80 | 13% | 25% | 99% |
| 300 | 240 | 72% | 92% | 接近全部 |
TIS 與 σ² 成正比,σ 每增大 3 倍,散射增大近 10 倍;與 λ² 成反比,用 633 nm 光看霧度比 850 nm 下實際的散射強約 1.8 倍(圖3右)。10 nm 以內對透射訊號的影響遠小於玻璃的菲涅耳反射(兩個表面約 8%);散射光又集中在約 ±10° 以內(本例相關長度),讀數頭接收角若更大,實際損失還會更小。

哪些環節對粗糙度敏感
振幅型透射讀數。 刻線/空白的遮光靠鉻膜,粗糙度只造成百分之一以下的整體衰減,亮暗兩態按同一比例變化,調製度不變。幾奈米與零點幾奈米在訊號上沒有區別。
相位光柵。 π 相位深度 d = λ/(2(n−1)) ≈ 833 nm,σ = 10 nm 時由粗糙度引起的相位誤差 2π(n−1)σ/λ ≈ 0.038 rad,零級增加量約 g/4 ≈ 3.6×10⁻⁴,可以忽略;但 0.14% 的散射背景直接疊加在零級和雜散光裡。如果把零級和雜散光合計預算定為 1%(示例),它就佔掉了一成多。
鍍膜面與反射介面。 鉻膜厚約 100 nm,σ = 10 nm 的起伏已達膜厚的十分之一,區域性膜厚與 OD 會隨之漲落。從玻璃內側照金屬膜的結構,10 nm 就有約 5% 的光被散射;按 1% 預算只允許 σ 約 4.5 nm,按 0.1% 預算約 1.4 nm。
接觸曝光。 σ = 10 nm 對應的峰谷約 50 nm,接觸間隙引起的衍射模糊約 √(λ_曝光·g) ≈ 0.14 μm(λ_曝光取 365 nm,g = 50 nm),遠小於碼盤的線寬。限制曝光質量的是平面度和顆粒,不是 nm 級的粗糙度。
不能用 rms 描述的缺陷。 劃痕、麻點和亞表面裂紋是區域性缺陷,σ 小也可能很多。它們才是針孔、斷線和鍍膜脫落的來源,拋光等級還要同時寫表面疵病等級。
按散射預算反推 σ
給定允許的散射預算 B,兩個表面相同時
σ_max = λ / [2π(n − 1)] · √[−ln(1 − B) / 2]
B = 0.1% 時 σ_max ≈ 5.9 nm(Ra 約 4.7 nm),B = 1% 時約 18.8 nm(Ra 約 15 nm);只有一個表面粗糙時分別為 8.4 nm 和 26.6 nm(圖3左)。

工程要點
- 振幅型透射碼盤的光路面,σ ≤ 20 nm(Ra 約 15 nm,兩面 TIS 約 1%)已夠用,追求 Ra < 1 nm 對訊號沒有收益。
- 做相位光柵、干涉式讀數或高精度鍍膜的面,取 σ ≤ 2–5 nm,並同步限定劃痕與麻點等級。
- 反射結構(玻璃內側照金屬膜)允許的 σ 只有透射面的約六分之一,要單獨核算。
- 外圓、內孔、非光路面可以研磨,沒必要拋光;浮法玻璃的原始表面一般已是亞奈米至 1 nm 量級。
- 粗糙度驗收註明測量方法、視場和濾波頻寬;用 633 nm 可見光目視霧度會高估 850 nm 下的散射。
- 研磨面(Ra 0.1 μm 以上)用在光路上單面就要散掉一成以上的光,必須拋光後再用。
小結
透射面的散射損失與 σ² 成正比、與 λ² 成反比:850 nm 下 10 nm 以內的粗糙度只讓單面損失 0.14% 以內,對振幅型碼盤訊號可以忽略。真正需要超光滑表面的是相位光柵、反射介面和高精度鍍膜,同時要控制劃痕麻點這類區域性缺陷。拋光等級應按散射預算和製程環節分別提出,而不是一律追求最高等級。
延伸閱讀:ENC7 編碼器碼盤生產廠家(中文首頁) · 碼盤技術文庫
關於我們:晶正光電專注編碼器碼盤研發製造,玻璃、金屬、PC 碼盤均可按圖客製。
官網:https://enc7.com
© 廊坊晶正光電技術有限公司 版權所有,未經書面許可不得轉載、摘編。本文藉助 AI 輔助創作。